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  • 扫描电镜测试(日立SU8020)
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    微观形貌分析、元素组成分析

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商品描述

微观形貌分析、元素组成分析


                                       SU8020场发射扫描电子显微镜

设备图片


 仪器名称

                                                    场发射扫描电子显微镜

 仪器型号

                                                           SU8020

 生产厂家 

                                                        日本日立公司

技术参数


分辨率:
1.0nm (15 kV); 1.4nm(1 kV, WD = 1.5mm, 减速模式);2.0nm (1 kV, WD = 1.5mm, 普通模式
放大倍数:30倍-800,000倍 ;    电子枪:冷阴极场发射电子源 ;     加速电压:0.5-30kV (0.1KV/步,可变,普通模式) 
样品台: X: 0-50mm Y: 0-50mm, Z:1.5-30mm, T: -5-70°,R:360°, 样品尺寸最大直径:100mm(标准) 
信号选择:二次电子模式和背散射模式,X射线信号,辅助信号


应用范围

            


    SU8010
拥有卓越的高分辨性能、先进的探测技术和友好的用户界面,使它能够精确和清楚地捕捉最短暂的瞬间。 采用了新型ExB式探测器和电子束减速功能,提高了图像质量,尤其是将低加速电压下的图像质量提高到了新的水平;新型透镜系统,提供了高分辨模式、高束流模式、大工作距离模式、磁性样品模式等多种工作模式,使以往无法实现的工作得以轻松成,同时配备有高性能的HORIBA EX-350,可同时进行微区、亚微区成分定性和定量以及元素分布分析。

    利用它可进行:(1)形貌分析,通过形貌像可以对样品的形貌、粒径、分散性进行表征,可用于金属材料、薄膜材料、半导体材料、陶瓷材料、生物组织形貌像的观 察,同时还可对材料断口和失效进行分析(2)微区成分分析,通过对样品微区、亚微区成分进行分析定性、定量分析,可确定样品的组成。


纳米材料

检测案例

      

                                                 

                                                   氧化硅纳米颗粒形貌像                                                                               交联剂交联的聚合物微球形貌像


纳米材料

高倍形貌像

      

                                                                       

                                                   碳纳米管高倍形貌像                                                                                             介孔材料高倍形貌像


磁性材料

检测案例

      

            

                                             氧化镍磁性颗粒低倍形貌像                                                                                 氧化镍磁性颗粒高倍形貌像


薄膜表面

检测案例

      

            

                                            玻璃基底上钙钛矿薄膜平面图                                                                         玻璃基底上聚合物薄膜平面图


薄膜截面

检测案例

      

            

                                            基底上单层薄膜截面图                                                                                    玻璃基底上五层薄膜截面图



高分子薄膜

检测案例


                

                                高分子滤膜表面孔结构                                                                                          高分子滤膜截面孔结构

生物样品

检测案例

            

                                    大肠杆菌形貌像                                                                                            昆虫绒毛表面孔结构形貌像



能谱点测

检测案例


            

                        碳材料上负载氧化物颗粒能谱点测(一)                                   碳材料上负载氧化物颗粒能谱点测(二)



能谱线扫

检测案例


            

                        植物根茎截面能谱线扫(一)                                                               植物根茎截面能谱线扫(二)



能谱面分布

检测案例


                              

                         镁掺杂的电池材料能谱面分布(一)                                                镁掺杂的电池材料能谱面分布(二)

送样要求

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                                                                                                                                               委托测试表(SEM)

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